各種パッケージ・高多層基板の検査工程において、AOI検査や破壊検査をすることなく不良箇所を特定できる、高機能 CAD ビューワー『AZSA-HS View』、発光点/TDR 解析ソリューションの販売を開始しました。詳細はこちらをご確認ください。 一覧に戻る